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課程介紹：

隨著 IT 行業(yè)電子產(chǎn)品的種類日漸增多競爭日趨激烈。所以如何把握好產(chǎn)品的質(zhì)量就成為最為重要的部分。硬件測試是電子產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)如何將測試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子企業(yè)所追求的目標(biāo)。本課程從測試的理論出發(fā)結(jié)合實際的產(chǎn)品測試經(jīng)驗介紹了測試的目的、原理、流程和實際應(yīng)用操作并將測試同研發(fā)、銷售和公司的市場推廣進(jìn)行結(jié)合以更貼近企業(yè)的形式闡述了硬件測試在企業(yè)中的開展方法，我們特決定組織召開“可測性設(shè)計(DFT)工程實踐高級研修班”。

課程收益：

深刻理解可測性設(shè)計(DFT)的基本思想和基本原理

熟悉可測性設(shè)計(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程

全面掌握可測性設(shè)計(DFT)的設(shè)計方法

有效構(gòu)建可測性設(shè)計(DFT)的體系平臺和貨架技術(shù)

培訓(xùn)對象：

研發(fā)總監(jiān)、系統(tǒng)工程師、研發(fā)經(jīng)理、品質(zhì)經(jīng)理、測試經(jīng)理、制造技術(shù)經(jīng)理、新產(chǎn)品導(dǎo)入NPI經(jīng)理及骨干工程師等

課程大綱：

一、可測性設(shè)計(DFT)概述

1、產(chǎn)品生命周期V模型

2、電子信息產(chǎn)品測試所面臨的問題

3、什么是可測性設(shè)計(DFT)

4、思考：如何深刻理解可測性設(shè)計(DFT)

5、可測性的物理特征表述

6、可測性的測度形式

討論：以下各功能模塊的可測性測度是怎樣的？

7、可測性設(shè)計(DFT)的效益分析

8、可測性設(shè)計(DFT)基本要素

9、IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)

10、可測性設(shè)計(DFT)基本過程

11、可測性設(shè)計(DFT)中常用術(shù)語及縮略語

二、可測性設(shè)計(DFT)需求

1、整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源

2、整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求

3、單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源

4、單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求

5、單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源

6、單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求

7、單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求來源

8、單板生產(chǎn)測試的抽象模型

思考：單板生產(chǎn)測試的目的是什么？

9、單板生產(chǎn)測試路線

10、單板生產(chǎn)工藝測試基本原理

11、單板生產(chǎn)功能測試基本原理

12、單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求

討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測試方案和路線是怎樣的？

13、JTAG在生產(chǎn)測試中的應(yīng)用

14、JTAG在生產(chǎn)測試中的可測性設(shè)計(DFT)需求

15、單板維修可測性設(shè)計(DFT)需求

思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？

三、可測性設(shè)計(DFT)基本方法

1、輸入輸出通道設(shè)計——測試控制物理通道

2、輸入輸出通道設(shè)計——外部測試命令集

3、輸入輸出通道設(shè)計——測試控制管理

4、輸入輸出通道設(shè)計——測試信息存儲與輸出

5、輸入輸出通道設(shè)計——外部儀器輸入輸出接口

6、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動生成

7、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——差錯數(shù)據(jù)源自動生成

8、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——容限/極限數(shù)據(jù)源自動生成

9、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——故障數(shù)據(jù)源自動生成

10、能控性設(shè)計——測試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動

11、能觀性設(shè)計——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控

12、能觀性設(shè)計——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控

13、能觀性設(shè)計——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控

14、能觀性設(shè)計——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控

15、能觀性設(shè)計——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控

16、BIST設(shè)計——通道分層環(huán)回

17、BIST設(shè)計——故障診斷

18、BIST設(shè)計——初始化自檢

案例解讀

四、單板可測性設(shè)計(DFT)必須考慮的要素

1、機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計

2、自檢和自環(huán)設(shè)計

3、工裝夾具設(shè)計

4、測試點設(shè)計

5、芯片控制引腳設(shè)計

6、邊界掃描測試設(shè)計

7、EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計

8、如何設(shè)計以減少測試點

五、可測性設(shè)計(DFT)工程實施

1、可測性設(shè)計(DFT)工程實施步驟

2、可測性設(shè)計(DFT)工程實施障礙

3、交流與探討：如何構(gòu)建可測性設(shè)計(DFT)體系和貨架技術(shù)

程老師

資深講師研發(fā)工程技術(shù)產(chǎn)線總監(jiān) APECG 測試工程首席專家 中國電子協(xié)會 ATE 測試分會會員

工作經(jīng)驗： 華為公司從事通訊產(chǎn)品可測試設(shè)計的研究及開發(fā)工作，曾參與大型程控交換機(jī)、光通信產(chǎn)品、會議電視系統(tǒng)項目的可測試及可制造性工程實施，歷任華為中央硬件研發(fā)平臺部開發(fā)經(jīng)理，兆天網(wǎng)絡(luò)中試部經(jīng)理等

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